正式名称：Stress Test
読み：ストレス テスト
ハードウェアやソフトウェアに短時間に大量のデータを与えるなどの高い負荷をかけて、製品が正常に機能しているか調べるテスト。
ハードウェアやソフトウェアの不良の中には、低い負荷で動作しているときには不具合を起こさないが、高い負荷で動作させると不具合を起こすという性質を持ったものがある。
また、不具合を起こす確率が非常に低い不良も含まれていることもあり、通常の使用を想定したテストではなかなか不良が発見できないことがある。
このような、不具合を起こす状況が限定された製品の不良を検知するために行われるのがストレステストで、絶対にトラブルを起こすことが許されないサーバ用のハードウェアなど、信頼性の高いシステムに使われる製品に対してよく行われている。
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